Košík

0335708 - ÚPT 2010 CZ eng A - Abstrakt
Číp, Ondřej - Šmíd, Radek - Mikel, Břetislav - Čížek, Martin - Růžička, Bohdan - Lazar, Josef
Dimensional inspection of samples !n the nanometer scale by means of the supercontinuum light.
[Kontrola rozměrů vzorků v nanometrickém měřítku pomocí superkontinuálniho světla.]
NANOCON 2009 - 1st Conference with International Participation. Ostrava: TANGER, s.r.o, 2009. s. 25. ISBN 978-80-87294-12-3.
[NANOCON 2009. 20.10.2009-22.10.2009, Rožnov pod Radhoštěm]
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
Kód oboru RIV: BH - Optika, masery a lasery
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0180099