Košík

0319953 - FZÚ 2009 RIV US eng J - Článek v odborném periodiku
Youssef, A. - Švindrych, Z. - Hadač, J. - Janů, Zdeněk
Analysis of critical state response in thin films by AC susceptibility measurements.
[Analýza odpovědi kritického stavu v tenkých filmech pomocí měření střídavé susceptibility.]
IEEE Transactions on Applied Superconductivity. Roč. 18, č. 2 (2008), s. 1589-1592. ISSN 1051-8223. E-ISSN 1558-2515
Grant CEP: GA ČR GA102/05/0942
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z10100520
Klíčová slova: AC susceptibility * critical state * harmonics * thin film * axial magnetic-field * superconductor disks * cylinders
Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
Impakt faktor: 0.919, rok: 2008
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0168965