Košík

0315084 - ÚPT 2009 RIV DE eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Radlička, Tomáš - Lencová, Bohumila
Influence of tilt of sample on axial beam properties.
[Vliv náklonění vzorku na vlastnosti osového svazku.]
EMC 2008 - 14th European Microscopy Congress - Volume 1: Instrumentation and Methods. Berlin: Springer, 2008 - (Luysberg, M.; Tillmann, K.; Weirich, T.), s. 599-600. ISBN 978-3-540-85154-7.
[EMC 2008 - European Microscopy Congress /14./. Aachen (DE), 01.09.2008-05.09.2008]
Grant CEP: GA AV ČR IAA100650805
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
Klíčová slova: parasitic aberration * misalignment aberrations
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0004855