0315081 - ÚPT 2009 RIV DE eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Vlček, Ivan - Horáček, Miroslav - Zobač, MartinWien filter electron optical characteristics determining using shadow projection method.
[Určování optických vlastností Wienova filtru s využitím stínových metod.]
EMC 2008 - 14th European Microscopy Congress - Volume 1: Instrumentation and Methods. Berlin: Springer, 2008 - (Luysberg, M.; Tillmann, K.; Weirich, T.), s. 551-552. ISBN 978-3-540-85154-7.
[EMC 2008 - European Microscopy Congress /14./. Aachen (DE), 01.09.2008-05.09.2008]
Grant CEP: GA AV ČR IAA100650803
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
Klíčová slova: Wien filter * shadow method * very low energy electrons
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0004852
