Košík

0314129 - ÚFM 2009 RIV GB eng J - Článek v odborném periodiku
Klapetek, P. - Valtr, M. - Klenovský, P. - Buršík, Jiří
Characterization of near-field optical microscope probes.
[Charakterizace sond pro optickou mikroskopii v blízkém poli.]
Surface and Interface Analysis. Roč. 40, 3-4 (2008), s. 482-485. ISSN 0142-2421. E-ISSN 1096-9918
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20410507
Klíčová slova: near-field scanning optical microscopy * image artefacts * optical analysis
Kód oboru RIV: BL - Fyzika plazmatu a výboje v plynech
Impakt faktor: 1.272, rok: 2008
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0164740