0313545 - FZÚ 2009 RIV CZ cze C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Ganev, N. - Čerňanský, Marian - Drahokoupil, Jan - Kolařík, K.Příspěvek k difrakční analýze makroskopických a mikroskopických zbytkových napětí v povrchových vrstvách balotinovaných ocelí.
[Contribution to diffraction analysis of macroscopic and microscopic residual stresses in surface layers of shot-peened steels.]
Experimental stress analysis 2005. Brno: Institut of solid mechanics Brno, 2005 - (Houfek, L.; Návrat, T.; Fuis, V.), s. 25-26. ISBN 80-214-2941-0.
[International conference Experimental Stress Analysis 2005 /43./. Skalský Dvůr (CZ), 07.06.2005-09.06.2005]
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z10100520
Klíčová slova: macroscopic and microscopic residual stresses * X-ray diffraction * shot peening * steels
Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0164333
