Košík

0312463 - ÚCHP 2009 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Dřínek, Vladislav - Vacek, Karel
Surface Point Defects in Silicon Related Nanopowders Produced by Pulsed Laser Ablation: IR Evidence of Peroxy Radical SiOO(.).
[Povrchové bodové defekty v nanopráškách obsahující křemík připravené pomocí pulsní laserové ablace: IR důkaz peroxy radikálu SiOO(.).]
Proceedings. Praha: ČSNMT, 2008, s. 117-122. ISBN 80-214-3331-0.
[International Conference Nano 06. Brno (CZ), 13.11.2006-15.11.2006]
Grant CEP: GA AV ČR IAA400720616
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z4072921
Klíčová slova: pulser laser ablation * silicon dioxide * point defect
Kód oboru RIV: CF - Fyzikální chemie a teoretická chemie
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0163524