Košík

0308983 - ÚFM 2009 RIV NL eng J - Článek v odborném periodiku
Klapetek, P. - Buršík, Jiří - Valtr, M. - Martinek, J.
Near-field scanning optical microscope probe analysis.
[Analýza sond pro rastrovací optickou mikroskopii v blízkém poli.]
Ultramicroscopy. Roč. 108, č. 7 (2008), s. 671-676. ISSN 0304-3991. E-ISSN 1879-2723
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20410507
Klíčová slova: NSOM * artifacts
Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
Impakt faktor: 2.629, rok: 2008
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0161259