0305449 - ASÚ 2008 RIV US eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Švéda, L. - Inneman, A. - Semencová, V. - Pína, L. - Hudec, René - Havlíková, R.Metrology of micromirrors with replicated multilayers.
[Metrologie mikrozrcadel s multivrstvami.]
Advances in X-Ray/EUV Optics and Components II. -: -, 2007 - (Khounsary, A.; Morawe, C.; Goto, S.), 67050D.01-67050D.09. ISBN 0-8194-6396-5.
[Advances in X-Ray/EUV Optics and Components /2./. San Diego (US), 27.08.2007-27.08.2007]
Grant CEP: GA AV ČR IAAX01220701; GA MŠMT ME 918
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z10030501
Klíčová slova: X-ray optics * X-ray telescopes
Kód oboru RIV: BN - Astronomie a nebeská mechanika, astrofyzika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0158735
