Košík

0304046 - URE-Y 20020131 CZ eng A - Abstrakt
Zeipl, Radek - Lošťák, P. - Pavelka, Martin - Žďánský, Karel - Jelínek, Miroslav - Walachová, Jarmila
Thickness dependence of transport properties of Bi₂Te₃ layers.
Brno: Akademické nakladatelství CERM, 2002. ISBN 80-7204-258-0. NANO'02. - (Švejcar, J.; Šandera, P.). s. 68
[NANO'02. 19.11.2002-21.11.2002, Brno]
Grant CEP: GA ČR GA202/02/0098
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z2067918
Klíčová slova: thin films * materials properties * thermoelectricity
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0114190