Košík

0303669 - URE-Y 20000069 CZ cze I - Interní tisk
Vaniš, Jan - Czajka, R. - Horák, Jaromír - Lošťák, P. - Karamazov, S. - Walachová, Jarmila
Charakterizace Bi₂Te₃ pomocí AFM.
[Characterisation Bi₂Te₃ with AFM.]
B.m.: [Spektroskopická společnost Jana Marca Marci], 2000. 1 s. 2. Seminář o rastrovací tunelovací mikroskopii, spektroskopii a příbuzných technikách. s. 23
Grant CEP: GA ČR GA102/97/0427
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z2067918
Klíčová slova: nanostructured materials * semiconductor materials * thermoelectric devices
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0113857