Košík

0303521 - URE-Y 990109 RIV KR eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Czajka, R. - Horák, Jaromír - Lošťák, P. - Karamazov, S. - Vaniš, Jan - Walachová, Jarmila
Characterisation and nanometer-scale modifications of Bi₂Te₃ surface via the atomic force microscopy.
[Seoul]: [Seoul University], 1999. In: Preliminary Proceedings of STM'99. - (Kuk, Y.; Lyo, I.; Jeon, D.; Park, S.), s. 79-80
[STM'99 Scanning Tunneling Mircoscopy/Spectroscopy and Related Proximal Probe Spectroscopy /10./. Seoul (KR), 19.07.1999-23.07.1999]
Grant CEP: GA ČR GA102/97/0427
Grant ostatní: KBN(PL) 7 T08C 009 11
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z2067918
Klíčová slova: microscopes * nanostructured materials * semiconductor materials
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0113736