Košík

0303038 - URE-Y 970055 CZ cze C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Walachová, Jarmila - Zelinka, Jiří - Vaniš, Jan - Hulicius, Eduard - Šimeček, Tomáš
Měření profilu koncentrace/složení na polovodičových nanovrstvách kontaktní metodou. (Measurement of concentration/composition profiles on semiconductor nanostructures with contract mothod).
Ostrava: VŠB Technická univerzita, 1997. In: Dvanáctá konference Českých a slovenských fyziků. Sborník příspěvků. - (Lesňák, M.; Luňáček, J.; Pištora, J.), s. 479-481
[Konference českých a slovenských fyziků /12./. Ostrava (CZ), 02.09.1996-06.09.1996]
Grant CEP: GA ČR GA202/94/1056
Klíčová slova: doping profiles * semiconductor heterojunctions
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0113326