Košík

0303020 - URE-Y 970045 RIV US eng J - Článek v odborném periodiku
Walachová, Jarmila - Zelinka, Jiří - Vaniš, Jan - Chow, D. H. - Schulman, J. N. - Karamazov, Simeon - Cukr, Miroslav - Zich, P. - Král, J. - McGill, T. C.
Probing of InAs/AlSb double barrier heterostructures by ballistic electron emission spectroscopy.
Applied Physics Letters. Roč. 70, č. 26 (1997), s. 3588-3590. ISSN 0003-6951. E-ISSN 1077-3118
Grant CEP: GA ČR GA202/94/1056
Klíčová slova: spectroscopy * semiconductor heterojunctions * semiconductor devices
Impakt faktor: 3.033, rok: 1997
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0113308