Košík

  1. 1.
    0302746 - URE-Y 950065 DE eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
    Walachová, Jarmila - Chow, D. H. - Košut, Jaroslav - Král, J. - Karamazov, S. - Zelinka, Jiří - Vaniš, Jan - Zich, Pavel - McGill, T. C.
    Probing of Double Barrier In AS/Al Sb Tunneling Structure with BEEM.
    Bad Honnef: Physikzentrum, 1995. In: STM-Related Spectroscopies of Semiconductor Interfaces (Abstracts)., s. -
    [WE-Heraeus-Seminar /148./. Bad Honnef (DE), 30.08.1995-01.09.1995]
    Grant CEP: GA ČR 202/94/1056
    Klíčová slova: semiconductor devices * semiconductor heterojunctions * spectroscopy
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0113093
     
     

  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.