Košík

0205610 - UPT-D 20020088 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Matějková, Jiřina - Rek, Antonín
High resolution field emission scanning electron microscope JSM 6700 in ISI AS CR Brno - first experience and results with the instrument operation.
International summer school: Role of physics in future applications: from nanotechnology to macroelectronics. Tři Studně: VUT, 2002, s. -.
[Role of physics in future applications: from nanotechnology to macroelectronics. Tři Studně (CZ), 10.06.2002-15.06.2002]
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z2065902
Klíčová slova: nano technology * high resolution FE SEM
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0101223