Košík

0205411 - UPT-D 20010051 RIV IT eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Michálek, Martin - Jirák, Josef
Modified Configuration of Ionization Detector for Environmental SEM.
Proceedings of 5th Multinational Congress on Electron Microscopy. Lecce: Rinton Press, 2001 - (Dini, L.; Catalano, M.), s. 529-530. ISBN 1-58949-003-7.
[MCEM '01 /5./ - Multinational Congress on Electron Microscopy. Lecce (IT), 20.09.2001-25.09.2001]
Grant CEP: GA ČR GA102/01/1271
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z2065902
Klíčová slova: environmental scanning electron microscopy * non-conductive samples
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0101025