Košík

0205406 - UPT-D 20010046 RIV IT eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Müllerová, Ilona - Frank, Luděk - El Gomati, M. M.
SLEEM Imaging of Doping Patterns in Semiconductors.
Proceedings of 5th Multinational Congress on Electron Microscopy. Lecce: Rinton Press, 2001 - (Dini, L.; Catalano, M.), s. 317-318. ISBN 1-58949-003-7.
[MCEM '01 /5./ - Multinational Congress on Electron Microscopy. Lecce (IT), 20.09.2001-25.09.2001]
Grant CEP: GA AV ČR IAA1065901
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z2065902
Klíčová slova: UHV SEM * low energy range
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0101020