Košík

0205293 - UPT-D 20000072 CZ cze A - Abstrakt
Matějka, František - Matějková, Jiřina - Lopour, F.
Možnosti testování metriky přístrojů STM a AFM.
[The posibilities of testing of metrics of the STM and AFM devices.]
2. seminář o rastrovací tunelovací mikroskopii, spektroskopii a příbuzných technikách. Praha: Spectroscopic Society of Johannes Marcus Marci, Sekce speciálních spektroskopických metod, 2000. s. 9.
[Seminář o rastrovací tunelovací mikroskopii, spektroskopii a příbuzných technikách /2./. 25.09.2000-27.09.2000, Lázně Bohdaneč]
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z2065902
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0100908