Košík

0205269 - UPT-D 20000048 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Hutař, Otakar - Müllerová, Ilona - Romanovský, Vladimír - Zobačová, Jitka
Recent trends in low voltage scanning electron microscopy for the imaging of semiconductor devices.
Proceedings EMAS 2000 - 4th Regional Workshop on Electron Probe Microanalysis Today - Practical Aspects. Prague: Czech Technical University in Prague, Faculty of Mechanical Engineering, 2000 - (Starý, V.; Horák, K.; Voňková, V.), s. 205. ISBN 80-01-02176-9.
[EMAS 2000 - Regional Workshop on Electron Probe Microanalysis Today /4./. Třešť (CZ), 17.05.2000-20.05.2000]
Grant CEP: GA AV ČR IAA1065901
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z2065902
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0100887