Košík

0204585 - UPT-D 940001 RIV CZ eng J - Článek v odborném periodiku
Frank, Luděk - El Gomati, M. M.
Auger Electron Microscopy: An Overview.
Czechoslovak Journal of Physics. Roč. 44, č. 3 (1994), s. 173-193. ISSN 0011-4626.
[Secondary Electrons in Electron Spectroscopy, Microscopy, and Microanalysis. Chlum, 21.09.1993-24.09.1993]
Impakt faktor: 0.330, rok: 1994
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0002824