Košík

0181583 - UFCH-W 20030006 RIV NL eng J - Článek v odborném periodiku
Franzreb, K. - Williams, P. - Lörinčík, Jan - Šroubek, Zdeněk
Doubly versus Singly Positively Charged Oxygen Ions Back-Scattering from a Silicon Surface under Dynamic O2+ Bombardment.
Applied Surface Science. 203-204, 1/4 (2003), s. 39-42. ISSN 0169-4332. E-ISSN 1873-5584
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z2067918; CEZ:AV0Z4040901
Klíčová slova: low-energy ion scattering * doubly charged ions * molecular orbital
Kód oboru RIV: CF - Fyzikální chemie a teoretická chemie
Impakt faktor: 1.284, rok: 2003
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0001911