Košík

0134047 - FZU-D 20020335 RIV NL eng J - Článek v odborném periodiku
Mates, Tomáš - Fejfar, Antonín - Drbohlav, Ivo - Rezek, Bohuslav - Fojtík, Petr - Luterová, Kateřina - Kočka, Jan - Koch, C. - Schubert, M. B. - Ito, M. - Ro, K. - Uyama, H.
Role of grains in protocrystalline silicon layers grown at very low substrate temperatures and studied by atomic force microscopy.
Journal of Non-Crystalline Solids. 299-302, - (2002), s. 767-771. ISSN 0022-3093. E-ISSN 1873-4812
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z1010914
Klíčová slova: protocrystalline silicon layers * atomic force microscopy
Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
Impakt faktor: 1.435, rok: 2002
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0031988