Košík

0133759 - FZU-D 20020140 RIV NL eng J - Článek v odborném periodiku
Srnanek, R. - Vincze, A. - Kovac, J. - Gregora, Ivan - Mc Phail, D. S. - Gottschalsch, V.
A Raman study of GaAsN, GaInAsN layers on bevelled samples.
Materials Science and Engineering B-Advanced Functional Solid-State Materials. 91-92, - (2002), s. 87-90. ISSN 0921-5107. E-ISSN 1873-4944.
[International Conference of Defects /9./. Rimini, 24.09.2001-28.09.2001]
Grant ostatní: GA-(SK) 1/7600/20; GA-(SK) 4/7643/20
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z1010914
Klíčová slova: Raman spectroscopy * GaAsN * GaInAsN * bevelling
Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0031718