Košík

    1.
    0132074 - FZU-D 980321 RIV NL eng J - Článek v odborném periodiku
    Aguiar, R. - Trtík, Vítězslav - Sánchez, F. - Ferrater, C. - Varela, M.
    Effects of wavelength, deposition rate and thickness on laser ablation deposited YSZ films on Si(100).
    Thin Solid Films. Roč. 304, - (1997), s. 225-228. ISSN 0040-6090. E-ISSN 1879-2731
    Impakt faktor: 1.034, rok: 1997
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0030112
     
     

  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.

Přijmout všeNastaveníOdmítnout vše