Košík

0131561 - FZU-D 980618 RIV GB eng J - Článek v odborném periodiku
Hartmanová, M. - Thurzo, I. - Jergel, M. - Bartoš, J. - Kadlec, Filip - Železný, Vladimír - Tunega, D. - Kundracik, F. - Chromik, S. - Brunel, M.
Characterization of yttria-stabilized zirconia thin films deposited by electron beam evaporation on silicon substrates.
Journal of Materials Science. Roč. 33, - (1998), s. 969-975. ISSN 0022-2461. E-ISSN 1573-4803
Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
Impakt faktor: 0.632, rok: 1998
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0029620