Košík

  1. 1.
    0131252 - FZU-D 970330 RIV US eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
    Veprek, S. - Wirschem, T. - Rückschloss, M. - Ossadnik, C. - Dian, J. - Perna, S. - Gregora, Ivan
    Localization phenomena, photoluminescence and Raman scattering in nc-Si and nc-Si/a-SiO2 composites.
    1-55899-308-8. In: Surface/Interface and Stress Effects in Electronic Materials Nanostructures. Boston: Material Research Society, 1996 - (Prokes, S.; Cammarata, R.; Wang, K.; Christon, A.), s. 141-152. Material Research Society Symposium Proceedings (MRS)., 405.
    [MRS Fall Meeting 1995. Boston (US), 02.12.1995-06.12.1995]
    Grant CEP: GA AV ČR IAA110426
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0029329
     
     

  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.