Košík

    1.
    0133467 - FZU-D 20010319 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
    Jurek, Karel - Gedeon, O.
    Electron probe microanalysis of nonconductive bulk samples.
    Electron probe microanalysis today practical aspects. Praha: Czech Technical University in Prague, Faculty of Mechanical Engineering, 2000 - (Starý, V.; Mašek, K.; Horák, K.), s. 83-88. ISBN 80-01-02176-9.
    [EMAS /4./. Třešť (CZ), 17.05.2000-20.05.2000]
    Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z1010914
    Klíčová slova: electron probe * x-ray microanalysis * electric charging
    Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0031432
     
    2.
    0123736 - ASU-R 950058 RIV US eng J - Článek v odborném periodiku
    Harmanec, Petr - Horn, Jiří
    A Fortran 77 Package for reduction, Transformation to Standard Systems, Archiving and Retrieval of Photoelectric Observations.
    Be Star Newsletter. č. 30 (1995), s. 24-25. ISSN 0296-3140
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0022001
     

Metadata v repozitáři ASEP jsou licencována pod licencí CC0.

  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.

Přijmout všeNastaveníOdmítnout vše