Košík

  1. 1.
    0365496 - ÚJF 2012 RIV DE eng J - Článek v odborném periodiku
    Pichard, S. - Mrázek, Jaromír - Assie, M. - Hass, M. - Honusek, Milan - Lhersonneau, G. - de Oliveira Santos, F. - Saint-Laurent, M. G. - Šimečková, Eva
    A new cross-section measurement of reactions induced by (3)He particles on a carbon target.
    European Physical Journal A. Roč. 47, č. 6 (2011), 72/1-72/7. ISSN 1434-6001. E-ISSN 1434-601X
    Grant CEP: GA ČR GAP203/10/0310
    Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z10480505
    Klíčová slova: HE-3-INDUCED REACTIONS * EXCITATION-FUNCTIONS * RADIOACTIVE BEAM * COBALT
    Kód oboru RIV: BG - Jaderná, atomová a mol. fyzika, urychlovače
    Impakt faktor: 2.190, rok: 2011
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0200726
     
     
  2. 2.
    0107340 - FZU-D 20040625 RIV DE eng J - Článek v odborném periodiku
    Kočka, Jan - Fejfar, Antonín - Mates, Tomáš - Fojtík, Petr - Dohnalová, Kateřina - Luterová, Kateřina - Stuchlík, Jiří - Stuchlíková, The-Ha - Pelant, Ivan - Rezek, Bohuslav - Stemmer, A. - Ito, M.
    The physics and technological aspects of the transition from amorphous to microcrystalline and polycrystalline silicon.
    [Fyzikální a technologické aspekty přechodu mezi amorfním a mikrokrystalickým a polykrystalickým křemíkem.]
    Physica Status Solidi C. Roč. 1, č. 5 (2004), s. 1097-1114. ISSN 1610-1634
    Grant CEP: GA AV ČR IAA1010316; GA AV ČR IAB2949101; GA MŽP SM/300/1/03; GA ČR GA202/03/0789
    Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z1010914
    Klíčová slova: silicon thin films * amorphous/microcrystalline boundary * AFM microscopic study * model of transport * metal-induced crystallization
    Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0014504
     
     

  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.