Košík

    1.
    0303796 - URE-Y 20010091 RIV GB eng J - Článek v odborném periodiku
    Kosíková, Jitka - Leitner, J. - Pangrác, Jiří - Melichar, Karel - Jurek, K. - Drbohlav, Ivo - Stejskal, J.
    Ga1-xInxSB-MOVPE growth and thermodynamic model.
    Semiconductor Science and Technology. Roč. 16, č. 9 (2001), s. 759-762. ISSN 0268-1242. E-ISSN 1361-6641
    Grant CEP: GA ČR GA202/98/P254
    Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z2067918
    Klíčová slova: semiconductor growth * semiconductor materials * thermodynamics
    Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
    Impakt faktor: 1.079, rok: 2001
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0113980
     
    2.
    0100119 - FZU-D 20040099 RIV US eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
    Pavlíček, Pavel
    Height profile measurement by means of white light interferometry.
    [Měření výškového profilu pomocí interferometrie v bílém světle.]
    Wave and Qantum Aspects of Contemporary Optics. Washington: SPIE The International Society for Optical Engineering, 2003 - (Zajac, M.; Masajada, J.), s. 139-144. SPIE - The International Society for Optical Engineering., 5259. ISBN 0-8194-5146-0. ISSN 0277-786X.
    [Polish-Czech-Slovak Conference on Wave and Quantum Aspects of Contemporary Optics /13./. Krzyzowa (PL), 09.09.2002-13.09.2002]
    Grant CEP: GA MŠMT LN00A015
    Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z1010921
    Klíčová slova: white-light interferometry * height profile * rough surface * speckle pattern
    Kód oboru RIV: BH - Optika, masery a lasery
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0007625
     

  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.

Přijmout všeNastaveníOdmítnout vše