Košík

0092619 - ÚPT 2008 RIV NL eng J - Článek v odborném periodiku
Ohlídal, I. - Franta, D. - Šiler, Martin - Vižďa, F. - Frumar, M. - Jedelský, J. - Omasta, J.
Comparison of dispersion models in the optical characterization of As-S chalcogenide thin films.
[Srovnání disperzních modelů při optické charakterizaci As-S chalkogenidových tenkých vrstev.]
Journal of Non-Crystalline Solids. Roč. 352, 52-54 (2006), s. 5633-5641. ISSN 0022-3093. E-ISSN 1873-4812
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
Klíčová slova: Ellipsometry * Chalcogenides
Kód oboru RIV: CA - Anorganická chemie
Impakt faktor: 1.362, rok: 2006
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0152890