0092588 - ÚPT 2008 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Černoch, P. - Jirák, JosefOptimization of Secondary Electron Detection by Segmental lonization Detector in Environmental SEM.
[Optimalizace detekce sekundárních elektronů segmentovým ionizačním detektorem v environmentálním REM.]
Proceedings of the 8th Multinational Congress on Microscopy. Prague: Czechoslovak Microscopy Society, 2007 - (Nebesářová, J.; Hozák, P.), s. 79-80. ISBN 978-80-239-9397-4.
[Multinational Congress on Microscopy /8./. Prague (CZ), 17.06.2007-21.06.2007]
Grant CEP: GA ČR(CZ) GA102/05/0886
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
Klíčová slova: secondary electron detection * segmental ionization detector * environmental SEM
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0152866
