Košík

Záznam byl přidán do košíku

Z košíku
RIV
DOI
WOS
Bookmark
1.
0389652 - FZÚ 2013 RIV NL eng J - Článek v odborném periodiku
Aad, G. - Abbott, B. - Abdallah, J. - Chudoba, Jiří - Gallus, Petr - Gunther, Jaroslav - Hruška, I. - Juránek, Vojtěch - Kepka, Oldřich - Kupčo, Alexander - Kůs, Vlastimil - Lipinský, L. - Lokajíček, Miloš - Marčišovský, Michal - Mikeštíková, Marcela - Myška, Miroslav - Němeček, Stanislav - Panušková, M. - Růžička, Pavel - Schovancová, Jaroslava - Šícho, Petr - Staroba, Pavel - Svatoš, Michal - Taševský, Marek - Tic, Tomáš - Valenta, J. - Vrba, Václav - Zeman, Martin … celkem 3024 autorů
Measurement of the cross section for the production of a W boson in association with b- jets in pp collisions at sqrt{s} = 7 TeV with the ATLAS detector.
Physics Letters. B. Roč. 707, č. 5 (2012), 418-437. ISSN 0370-2693. E-ISSN 1873-2445
Grant CEP: GA MŠMT LA08032
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z10100502
Klíčová slova: jet: bottom * ATLAS * quantum chromodynamics * perturbation theory * jet: transverse momentum * CERN LHC Coll * jet: rapidity * p p interaction
Kód oboru RIV: BF - Elementární částice a fyzika vys. energií
Impakt faktor: 4.569, rok: 2012
http://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S0370269311015036
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0218509
Z košíku
RIV
Bookmark
2.
0092205 - ÚPT 2008 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Novák, Libor - Müllerová, Ilona
Signal Processing of Secondary Electron Images in SEM.
[Článek charakterizuje způsoby zavedení rastrovací verze LEEM do konvenčního SEM prostřednictvím vložení katodové čočky pod objektiv přístroje. Shrnuty jsou základní vlastnosti rastrovacího LEEMu.]
Proceedings of the 8th Multinational Congress on Microscopy. Prague: Czechoslovak Microscopy Society, 2007 - (Nebesářová, J.; Hozák, P.), s. 99-100. ISBN 978-80-239-9397-4.
[Multinational Congress on Microscopy /8./. Prague (CZ), 17.06.2007-21.06.2007]
Grant CEP: GA ČR GA102/05/2327
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
Klíčová slova: signal processing * secondary electron images * SEM
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0152591