Košík

0090125 - ÚFE 2008 RIV RU rus J - Článek v odborném periodiku
Subbotin, I. A. - Čujev, M. A. - Pašajev, E. M. - Imamov, R. M. - Galiev, G. B. - Tichomirov, S. A. - Kacerovský, Pavel
Rentgenovskaja diagnostika psevdomorfnoj AlGaAs/InGaAs/GaAs – kompozicii.
[X-Ray diagnostic of the pseudomorph AlGaAs/InGaAs/GaAs heterostructure.]
Kristallografija. Roč. 52, č. 4 (2007), s. 638-644. ISSN 0023-4761
Grant CEP: GA ČR GA202/06/1315
Grant ostatní: RFFI(RU) 05-02-17585; NŠ(RU) 5133.2006.2
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20670512
Zdroj financování: O - operační programy ; O - operační programy
Klíčová slova: diffraction * semiconductor thin films * X-ray spetrometers
Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0151125