Košík

0086002 - FZÚ 2008 RIV US eng J - Článek v odborném periodiku
Chalupský, Jaromír - Juha, Libor - Kuba, J. - Cihelka, Jaroslav - Hájková, Věra - Koptyaev, Sergey - Krása, Josef - Velyhan, Andriy - Bergh, M. - Caleman, C. - Hajdu, J. - Bionta, R.M. - Chapman, H. - Hau-Riege, S.P. - London, R.A. - Jurek, M. - Krzywinski, J. - Nietubyc, R. - Pelka, J. B. - Sobierajski, R. - Meyer-ter-Vehn, J. - Tronnier, A. - Sokolowski-Tinten, K. - Stojanovic, N. - Tiedtke, K. - Toleikis, S. - Tschentscher, T. - Wabnitz, H. - Zastrau, U.
Characteristics of focused soft X-ray free-electron laser beam determined by ablation of organic molecular solids.
[Stanovení charakteristik fokusovaného svazku rentgenového laseru s volnými elektrony pomocí ablace organických molekulárních materiálů.]
Optics Express. Roč. 15, č. 10 (2007), s. 6036-6042. ISSN 1094-4087
Grant CEP: GA MŠMT 1P04LA235; GA MŠMT LC510; GA MŠMT(CZ) LC528; GA AV ČR KAN300100702
Grant ostatní: GA MŠk(CZ) 1K05026
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z10100523; CEZ:AV0Z40400503
Klíčová slova: free-electron laser * soft X-rays * focusing * beam profile * ablation threshold * laser-matter interaction
Kód oboru RIV: BH - Optika, masery a lasery
Impakt faktor: 3.709, rok: 2007
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0148382