Košík

0082769 - FZÚ 2007 RIV FR eng J - Článek v odborném periodiku
Jamelot, G. - Ros, D. - Cassou, K. - Kazamias, S. - Klisnick, A. - Kozlová, Michaela - Mocek, Tomáš - Homer, Pavel - Polan, Jiří - Stupka, Michal - Rus, Bedřich
X-UV interferential microscopy: a tool for the study of the spoiling of optical surfaces.
[X-UV inteferenční mikroskopie: nástroj pro studium poškozování optických povrchů.]
Journal de Physique IV. Roč. 138, - (2006), s. 245-260. ISSN 1155-4339
Grant CEP: GA ČR GA202/05/2316; GA MŠMT(CZ) LC528
GRANT EU: European Commission(XE) 506350 - LASERLAB-EUROPE; European Commission(XE) HPMT-CT-2001-00263
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z10100523
Klíčová slova: X-ray laser * XUV interferometry * XUV microscopy * laser-induced optical damage * fused silica
Kód oboru RIV: BH - Optika, masery a lasery
Impakt faktor: 0.315, rok: 2006
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0146238