Košík

  1. 1.
    0052944 - ÚPT 2007 RIV GB eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
    Lencová, Bohumila - Zlámal, Jakub
    A New Program for the Design of Electron Microscopes.
    [Nový programu pro návrh elektronových mikroskopů.]
    CPO-7 Seventh International Conference on Charged Particle Optics. London: Munro's Electron Beam Software Ltd., 2006, s. 71-72.
    [Charged Particle Optics /7./. Cambridge (GB), 24.07.2006-28.07.2006]
    Grant CEP: GA ČR GA102/05/2325
    Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
    Klíčová slova: optics of charged particles * design of electron microscopes * user inetrface * numerical methods of ray tracing * the finite element method
    Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0141366
     
     

  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.