Košík

  1. 1.
    0049016 - ÚPT 2007 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
    Mika, Filip - Frank, Luděk
    Imaging of Dopants in Semiconductors with the Secondary Electrons in a Low Energy SEM.
    [Zobrazení dopantu v polovodiči s pomocí sekundárních elektronů v LESEM.]
    Proceedings of the 10th International Seminar on Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation. Brno: ISI AS CR, 2006 - (Müllerová, I.), s. 47-48. ISBN 80-239-6285-X.
    [Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation /10./. Skalský dvůr (CZ), 22.05.2006-26.05.2006]
    Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
    Klíčová slova: dopant distribution profile * low energy scanning electron microscope
    Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0139513
     
     

  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.