Košík

0043751 - ÚFM 2007 RIV NL eng J - Článek v odborném periodiku
Buršíková, V. - Sládek, P. - Sťahel, P. - Buršík, Jiří
Mechanical properties of thin silicon films deposited on glass and plastic substrates studied by depth sensing indentation technique.
[Studium mechanických vlastností tenkých křemíkových vrstev deponovaných na skleněné a plastové podložky instrumentovanou indentační technikou.]
Journal of Non-Crystalline Solids. Roč. 352, 9-20 (2006), s. 1242-1245. ISSN 0022-3093. E-ISSN 1873-4812
Grant CEP: GA ČR(CZ) GA106/05/0274; GA ČR(CZ) GA202/05/0777
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20410507
Klíčová slova: amorphous semiconductors * silicon * mechanical properties
Kód oboru RIV: BL - Fyzika plazmatu a výboje v plynech
Impakt faktor: 1.362, rok: 2006
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0136667