Košík

0041137 - FZÚ 2007 RIV US eng J - Článek v odborném periodiku
Bronsveld, P.C.P. - Rath, J.K. - Schropp, R.E.I. - Mates, Tomáš - Fejfar, Antonín - Rezek, Bohuslav - Kočka, Jan
Internal structure of mixed phase hydrogenated silicon thin films made at 39 degrees.
[Vnitřní struktura hydrogenovaných křemíkových vrstev se smíšenou fází připravených při 39 st. Celsia.]
Applied Physics Letters. Roč. 89, - (2006), 051922/1-051922/3. ISSN 0003-6951. E-ISSN 1077-3118
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z10100521
Klíčová slova: transmission electron microscope * atomic force microscope * silicon films
Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
Impakt faktor: 3.977, rok: 2006
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0134706