Košík

0040682 - FZÚ 2007 RIV NL eng J - Článek v odborném periodiku
Mates, Tomáš - Bronsveld, P.C.P. - Fejfar, Antonín - Rezek, Bohuslav - Kočka, Jan - Rath, J.K. - Schropp, R.E.I.
Detailed structural study of low temperature mixed-phase Si films by X-TEM and ambient conductive AFM.
[Detailní studium struktury nízkoteplotních Si vrstev se smíšenou strukturou pomocí X-TEM a atmosférického vodivostního AFM.]
Journal of Non-Crystalline Solids. Roč. 352, - (2006), s. 1011-1015. ISSN 0022-3093. E-ISSN 1873-4812
Grant CEP: GA MŽP(CZ) SN/3/172/05; GA AV ČR(CZ) IAA1010316; GA AV ČR(CZ) IAA1010413; GA ČR(CZ) GD202/05/H003
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z10100521
Klíčová slova: silicon * solar cells * plasma deposition * atomic force and scanning tunneling microscopy * TEM/STEM
Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
Impakt faktor: 1.362, rok: 2006
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0134348