Košík

0023060 - ÚFE 2006 RIV CH eng J - Článek v odborném periodiku
Pavelka, Martin - Zeipl, Radek - Jelínek, Miroslav - Walachová, Jarmila - Studnička, Václav - Jurek, Karel
Periodic oscilations of thin film properties with their thickness for mixed real Bi_2(M+N)Te₃ phases.
[Periodické oscilace vlastností tenkých vrstev s jejich tloušťkou pro smíšené fáze Bi_2(M+N)Te₃N.]
Surface and Coatings Technology. Roč. 200, 1/4 (2005), s. 273-275. ISSN 0257-8972.
[Plasma Surface Engineering /9./. Garmisch-Partenkirchen, 13.09.2004-17.09.2004]
Grant CEP: GA ČR(CZ) GA202/02/0098; GA MŠMT(CZ) LN00A015; GA AV ČR(CZ) IAA1010110
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20670512; CEZ:AV0Z10100522
Klíčová slova: thermoelectricity * thin films * lase ablation
Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
Impakt faktor: 1.646, rok: 2005
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0111741