Počet záznamů: 1
Microscopic characterization of graphene material and electronic quality across neighbouring, differently oriented copper grains
- 1.
SYSNO 0434717 Název Microscopic characterization of graphene material and electronic quality across neighbouring, differently oriented copper grains Tvůrce(i) Čermák, Jan (FZU-D) RID, SAI, ORCID
Yamada, T. (JP)
Ganzerová, Kristína (FZU-D) RID
Rezek, Bohuslav (FZU-D) RID, ORCIDZdroj.dok. NANOCON 2014 Conference Proceedings. - Ostrava : Tanger Ltd, 2015 / Shrbená J. Konference International Conference NANOCON /6./, 05.11.2014-07.11.2014, Brno Druh dok. Konferenční příspěvek (zahraniční konf.) Grant GBP108/12/G108 GA ČR - Grantová agentura ČR, CZ - Česká republika Institucionální podpora FZU-D - RVO:68378271 Jazyk dok. eng Země vyd. CZ Klíč.slova graphene * chemical vapor deposition * atomic force microscopy * Raman spectroscopy * electronic properties Trvalý link http://hdl.handle.net/11104/0238688
Počet záznamů: 1