Počet záznamů: 1
Digital pixel test structures implemented in a 65 nm CMOS process
- 1.
SYSNO 0582691 Název Digital pixel test structures implemented in a 65 nm CMOS process Tvůrce(i) Aglieri Rinella, G. (CH)
Andronic, A. (DE)
Antonelli, M. (IT)
Aresti, M. (IT)
Isakov, Artem (UJF-V) [OJS] ORCID, SAI
Kotliarov, Artem (UJF-V) [OJS] ORCID, SAI
Křížek, Filip (UJF-V) [OJS] RID, ORCID, SAIZdroj.dok. Nuclear Instruments & Methods in Physics Research Section A. Roč. 1056, NOV (2023). - : Elsevier Číslo článku 168589 Druh dok. Článek v odborném periodiku Grant LM2023040 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy Institucionální podpora UJF-V - RVO:61389005 Jazyk dok. eng Země vyd. NL Klíč.slova ALICE detector * Monolithic active pixel sensors * Solid state detectors URL https://doi.org/10.1016/j.nima.2023.168589 Trvalý link https://hdl.handle.net/11104/0350772 Název souboru Staženo Velikost Komentář Verze Přístup 0582691.pdf 0 7.5 MB CC licence Vydavatelský postprint povolen
Počet záznamů: 1