Počet záznamů: 1
Robust Local Thickness Estimation of Sub-Micrometer Specimen by 4D-STEM
- 1.
SYSNO 0579321 Název Robust Local Thickness Estimation of Sub-Micrometer Specimen by 4D-STEM Tvůrce(i) Skoupý, Radim (UPT-D) RID, ORCID, SAI
Boltje, D. B. (NL)
Šlouf, Miroslav (UMCH-V) [MATER] RID, ORCID
Mrázová, Kateřina (UPT-D) SAI, ORCID, RID
Láznička, Tomáš (UPT-D) ORCID, RID, SAI
Taisne, C. M. (NL)
Krzyžánek, Vladislav (UPT-D) RID, ORCID, SAI
Hoogenboom, J. P. (NL)
Jakobi, A. J. (NL)Korespondující/senior Krzyžánek, Vladislav - Korespondující autor
Hoogenboom, J. P. - Korespondující autor
Jakobi, A. J. - Korespondující autorZdroj.dok. Small Methods. Roč. 7, č. 9 (2023). - : Wiley Číslo článku 2300258 Druh dok. Článek v odborném periodiku Grant GA21-13541S GA ČR - Grantová agentura ČR, CZ - Česká republika TN01000008 GA TA ČR - Technologická agentura ČR, CZ - Česká republika Institucionální podpora UPT-D - RVO:68081731 ; UMCH-V - RVO:61389013 Jazyk dok. eng Země vyd. US Klíč.slova 4D-STEM * cryo-ET * FIB milling * TEM analysis Spolupracující instituce Delft University of Technology (Nizozemsko) URL https://onlinelibrary.wiley.com/doi/10.1002/smtd.202300258 Trvalý link https://hdl.handle.net/11104/0348160
Počet záznamů: 1