Počet záznamů: 1

Thermal-stress-induced birefringence management of complex laser systems by means of polarimetry

SYSNO	0564270
Název	Thermal-stress-induced birefringence management of complex laser systems by means of polarimetry
Tvůrce(i)	Slezák, Ondřej (FZU-D)_{RID, ORCID} Sawicka-Chyla, Magdalena (FZU-D) Divoký, Martin (FZU-D)_{RID, ORCID} Pilař, Jan (FZU-D)_{RID, ORCID} Smrž, Martin (FZU-D)_{RID, ORCID} Mocek, Tomáš (FZU-D)_{RID, ORCID, SAI}
Korespondující/senior	Slezák, Ondřej - Korespondující autor
Zdroj.dok.	Scientific Reports. Roč. 12, č. 1 (2022). - : Nature Publishing Group
Číslo článku	18334
Druh dok.	Článek v odborném periodiku
Grant	CZ.02.1.01/0.0/0.0/15_006/0000674, XE - země EU
	EF15_006/0000674 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy
	739573, XE - země EU
Institucionální podpora	FZU-D - RVO:68378271
Jazyk dok.	eng
Země vyd.	DE
Klíč.slova	TIPCL * thermally-induced polarization * Mueller matrix
URL	https://hdl.handle.net/11104/0335970
Trvalý link	https://hdl.handle.net/11104/0335970

	Název souboru	Staženo	Velikost	Komentář	Verze	Přístup
	0564270.pdf	0	1.5 MB	CC Licence	Vydavatelský postprint	povolen

Počet záznamů: 1