Radiation-induced phase separation in nanostructured Hf-In-C ternary thin films under irradiation with 200 keV Ar.sup.+./sup. ion beam

Počet záznamů: 1

1.

SYSNO	0562898
Název	Radiation-induced phase separation in nanostructured Hf-In-C ternary thin films under irradiation with 200 keV Ar⁺ ion beam
Tvůrce(i)	Vacík, J. (CZ) Cannavó, A. (CZ) Bakardjieva, S. (CZ) Kupčík, Jaroslav (FZU-D)_ORCID Lavrentiev, V. (CZ) Ceccio, G. (CZ) Horák, P. (CZ) Němeček, J. (CZ) Verna, A. (IT) Parmeggiani, M. (IT) Calcagno, L. (IT) Klie, R. (US) Duchoň, Jan (FZU-D)_{ORCID, RID}
Zdroj.dok.	Radiation Effects and Defects in Solids. Roč. 177, 1-2 (2022), s. 137-160. - : Taylor & Francis
Druh dok.	Článek v odborném periodiku
Grant	LM2018110 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy
Institucionální podpora	FZU-D - RVO:68378271
Jazyk dok.	eng
Země vyd.	GB
Klíč.slova	ion beam synthesis * Hf-In-C nanocomposite * Hf2InC MAX phase * HfC0.95 phase * radiation tolerance
URL	https://doi.org/10.1080/10420150.2022.2049788
Trvalý link	https://hdl.handle.net/11104/0335067

Počet záznamů: 1