Počet záznamů: 1
Traceable reference full metrology chain for innovative aspheric and freeform optical surfaces accurate at the nanometer level
- 1.
SYSNO 0555695 Název Traceable reference full metrology chain for innovative aspheric and freeform optical surfaces accurate at the nanometer level Tvůrce(i) Arezki, Y. (FR)
Su, R. (GB)
Heikkinen, V. (FI)
Leprete, F. (FR)
Psota, Pavel (UFP-V) [TOPTEC] RID, ORCID
Bitou, Y. (JP)
Schober, C. (DE)
Mehdi-Souzani, C. (FR)
Alzahrani, B. A. M. (SA)
Zhang, X. (CN)
Kondo, Y. (JP)
Prüss, J. (DE)
Lédl, Vít (UFP-V) [TOPTEC] RID
Anwer, N. (FR)
Bouazizi, M. L. (SA)
Leach, R. (GB)
Nouira, H. (FR)Zdroj.dok. Sensors. Roč. 21, č. 4 (2021), s. 1-19. - : MDPI Číslo článku 1103 Druh dok. Článek v odborném periodiku Institucionální podpora UFP-V - RVO:61389021 Jazyk dok. eng Země vyd. CH Klíč.slova Aspheric and freeform optical elements * Dimensional metrology * Measured data evaluation * Robust reference minimum zone (Hybrid Trust Region) fitting * Ultra-high precision measuring machine * Uncertainty Spolupracující instituce Universite Paris-Saclay (Francie)
University of Nottingham (Velká Británie)
VTT Technical Research Centre of Finland (Finsko)
Etablissement de Saint Heand (Francie)
National Metrology Institute of Japan (Japonsko)
Universität Stuttgart (Německo)
Prince Sattam Bin Abdulaziz University (Saudská Arábie)
Fudan University
Laboratoire National de Metrologie et d'Essais (Francie)URL https://www.mdpi.com/1424-8220/21/4/1103 Trvalý link http://hdl.handle.net/11104/0330159
Počet záznamů: 1