Počet záznamů: 1
Quantification of stem images in high resolution sem for segmented and pixelated detectors
- 1.
SYSNO 0551125 Název Quantification of stem images in high resolution sem for segmented and pixelated detectors Tvůrce(i) Konvalina, Ivo (UPT-D) RID, ORCID, SAI
Paták, Aleš (UPT-D) RID, ORCID, SAI
Zouhar, Martin (UPT-D) ORCID, RID, SAI
Müllerová, Ilona (UPT-D) RID, SAI, ORCID
Fořt, Tomáš (UPT-D) RID, ORCID, SAI
Unčovský, M. (CZ)
Materna Mikmeková, Eliška (UPT-D) ORCID, RID, SAIKorespondující/senior Konvalina, Ivo - Korespondující autor Zdroj.dok. Nanomaterials. Roč. 12, č. 1 (2022). - : MDPI Číslo článku 71 Druh dok. Článek v odborném periodiku Grant TN01000008 GA TA ČR - Technologická agentura ČR, CZ - Česká republika StrategieAV21/6, CZ - Česká republika Institucionální podpora UPT-D - RVO:68081731 Jazyk dok. eng Země vyd. CH Klíč.slova STEM segmented detector * pixelated detector * scanning electron microscopy * Monte Carlo simulations * ray tracing * quantitative imaging Spolupracující instituce Thermo Fisher Scientific Inc. (Česká republika) URL https://www.mdpi.com/2079-4991/12/1/71 Trvalý link http://hdl.handle.net/11104/0326569
Počet záznamů: 1