Počet záznamů: 1  

In situ monitoring of electrical resistivity and plasma during pulsed laser deposition growth of ultra-thin silver films

  1. 1.
    SYSNO0546089
    NázevIn situ monitoring of electrical resistivity and plasma during pulsed laser deposition growth of ultra-thin silver films
    Tvůrce(i) Novotný, Michal (FZU-D) RID, ORCID, SAI
    Fitl, Přemysl (FZU-D) RID, ORCID
    Irimiciuc, S.A. (RO)
    Bulíř, Jiří (FZU-D) RID, ORCID, SAI
    More Chevalier, Joris (FZU-D) ORCID
    Fekete, Ladislav (FZU-D) RID, ORCID
    Hruška, Petr (FZU-D) ORCID
    Chertopalov, Sergii (FZU-D) ORCID
    Vrňata, M. (CZ)
    Lančok, Ján (FZU-D) RID, ORCID
    Korespondující/seniorNovotný, Michal - Korespondující autor
    Zdroj.dok. Journal of Applied Physics. Roč. 130, č. 8 (2021). - : AIP Publishing
    Číslo článku085301
    Druh dok.Článek v odborném periodiku
    Grant CZ.02.1.01/0.0/0.0/16_019/0000760, XE - země EU
    EF16_019/0000760 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy, CZ - Česká republika
    GA20-21069S GA ČR - Grantová agentura ČR, CZ - Česká republika
    Institucionální podporaFZU-D - RVO:68378271
    Jazyk dok.eng
    Země vyd.US
    Klíč.slova silver * thin films * insitu measurement
    URLhttps://doi.org/10.1063/5.0057317
    Trvalý linkhttp://hdl.handle.net/11104/0322679
     
Počet záznamů: 1  

  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.