Počet záznamů: 1
In situ monitoring of electrical resistivity and plasma during pulsed laser deposition growth of ultra-thin silver films
- 1.
SYSNO 0546089 Název In situ monitoring of electrical resistivity and plasma during pulsed laser deposition growth of ultra-thin silver films Tvůrce(i) Novotný, Michal (FZU-D) RID, ORCID, SAI
Fitl, Přemysl (FZU-D) RID, ORCID
Irimiciuc, S.A. (RO)
Bulíř, Jiří (FZU-D) RID, ORCID, SAI
More Chevalier, Joris (FZU-D) ORCID
Fekete, Ladislav (FZU-D) RID, ORCID
Hruška, Petr (FZU-D) ORCID
Chertopalov, Sergii (FZU-D) ORCID
Vrňata, M. (CZ)
Lančok, Ján (FZU-D) RID, ORCIDKorespondující/senior Novotný, Michal - Korespondující autor Zdroj.dok. Journal of Applied Physics. Roč. 130, č. 8 (2021). - : AIP Publishing Číslo článku 085301 Druh dok. Článek v odborném periodiku Grant CZ.02.1.01/0.0/0.0/16_019/0000760, XE - země EU EF16_019/0000760 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy, CZ - Česká republika GA20-21069S GA ČR - Grantová agentura ČR, CZ - Česká republika Institucionální podpora FZU-D - RVO:68378271 Jazyk dok. eng Země vyd. US Klíč.slova silver * thin films * insitu measurement URL https://doi.org/10.1063/5.0057317 Trvalý link http://hdl.handle.net/11104/0322679
Počet záznamů: 1